Taramalı tünelleme mikroskobu

atom düzeyinde görüntüleme için kullanılan mikroskop

Taramalı tünelleme mikroskobu, yüzeyleri atomik düzeyde görüntülemek için kullanılan alettir. 1981'de, Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından icat edilmiş olup,[1] kendileri 1986 yılında bu icatla Nobel Fizik Ödülü'nü kazanmışlardır.[2]

Londra Nanoteknoloji Merkezinde yer alan bir taramalı tünelleme mikroskobu.

Kaynakça

değiştir
  1. ^ Binnig, Gerd; Rohrer, Heinrich (1986). "Scanning tunneling microscopy". IBM Journal of Research and Development (İngilizce). 30 (4). ss. 355-69. 
  2. ^ "Nobel Fizik Ödülü 1986" (İngilizce). Nobel Vakfı. 12 Mayıs 2016 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019. 

Konuyla ilgili yayınlar

değiştir